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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [et al.]



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Titolo: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [et al.] Visualizza cluster
Pubblicazione: New York, : Springer, 2018
Descrizione fisica: XXIII, 550 p. : ill. ; 24 cm
Disciplina: 543.65(Spettrometria di massa. Spettroscopia di massa)
620.1(Scienze dei materiali)
570.28(Microscopia biologica)
Persona (resp. second.): Goldstein, Joseph I.
Titolo autorizzato: Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: VAN0124913
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Localizzazioni e accesso elettronico https://link.springer.com/book/10.1007/978-1-4939-6676-9
Opac: Controlla la disponibilità qui