Frontiers in Optical Methods : Nano-Characterization and Coherent Control / Ken-ichi Shudo, Ikufumui Katayama, Shin-Ya Ohno editors
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| Titolo: |
Frontiers in Optical Methods : Nano-Characterization and Coherent Control / Ken-ichi Shudo, Ikufumui Katayama, Shin-Ya Ohno editors
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| Pubblicazione: | xii, 228 p., : ill. ; 24 cm |
| Edizione: | Berlin : Springer, 2014 |
| Descrizione fisica: | Pubblicazione in formato elettronico |
| Soggetto topico: | 78A55 - Technical applications of optics and electromagnetic theory [MSC 2020] |
| 78-XX - Optics, electromagnetic theory [MSC 2020] | |
| 00A79 (77-XX) - Physics [MSC 2020] | |
| 00B15 - Collections of articles of miscellaneous specific interest [MSC 2020] | |
| 82D80 - Statistical mechanical studies of nanostructures and nanoparticles [MSC 2020] | |
| Persona (resp. second.): | Shudo, Ken-ichi |
| Katayama, Ikufumui | |
| Ohno, Shin-Ya | |
| Titolo autorizzato: | Frontiers in Optical Methods |
| Formato: | Materiale a stampa  |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | SUN0133211 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Localizzazioni e accesso elettronico | http://doi.org/10.1007/978-3-642-40594-5 |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |
Serie:
Springer series in optical sciences ; 180 Berlin [etc.] . -Springer , 1976-.