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Proceedings of the ... International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits



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Titolo: Proceedings of the ... International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits Visualizza cluster
Pubblicazione: Piscataway, N.J., : IEEE Service Center
Disciplina: 621
Soggetto topico: Integrated circuits - Design and construction
Integrated circuits - Testing
Microelectronics - Research
Soggetto genere / forma: Periodicals.
Conference papers and proceedings.
ISSN: 1946-1550
Titolo abbreviato (Periodici): PROCEEDINGS OF THE ... INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON THE PHYSICAL AND FAILURE ANALYSIS OF INTEGRATED CIRCUITS
Proc. Int. Symp. Phys. Fail. Analysis Integr. Circuits
Altri titoli varianti: IPFA ... proceedings
Proceedings of the ... International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
.. IEEE ... International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
Titolo autorizzato: Proceedings of the ... International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Periodico
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 996281137603316
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui