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| Titolo: |
Proceedings of the ... International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits
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| Pubblicazione: | Piscataway, N.J., : IEEE Service Center |
| Disciplina: | 621 |
| Soggetto topico: | Integrated circuits - Design and construction |
| Integrated circuits - Testing | |
| Microelectronics - Research | |
| Soggetto genere / forma: | Periodicals. |
| Conference papers and proceedings. | |
| ISSN: | 1946-1550 |
| Titolo abbreviato (Periodici): | PROCEEDINGS OF THE ... INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON THE PHYSICAL AND FAILURE ANALYSIS OF INTEGRATED CIRCUITS |
| Proc. Int. Symp. Phys. Fail. Analysis Integr. Circuits | |
| Altri titoli varianti: | IPFA ... proceedings |
| Proceedings of the ... International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits | |
| International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits | |
| .. IEEE ... International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits | |
| Titolo autorizzato: | Proceedings of the ... International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits ![]() |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Periodico |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | 996281137603316 |
| Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |