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2006 IEEE International Test Conference : Santa Clara, CA : 22-27 October 2006



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Titolo: 2006 IEEE International Test Conference : Santa Clara, CA : 22-27 October 2006 Visualizza cluster
Pubblicazione: IEEE
Disciplina: 621.3815/48
Soggetto topico: Integrated circuits - Testing
Electronic digital computers - Circuits - Testing
Telecommunication
Radio frequency
Altri titoli varianti: Autonomic Computing
2006 IEEE International Test Conference
Titolo autorizzato: 2006 IEEE International Test Conference  Visualizza cluster
ISBN: 1-5090-9088-6
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 996281106603316
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui