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IEEE standard for test methods for the characterization of organic transistors and materials / / Institute of Electrical and Electronics Engineers



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Titolo: IEEE standard for test methods for the characterization of organic transistors and materials / / Institute of Electrical and Electronics Engineers Visualizza cluster
Pubblicazione: New York, NY : , : IEEE, , 2004
Descrizione fisica: 1 online resource (vi, 13 pages)
Disciplina: 621.3815284
Soggetto topico: Field-effect transistors
Organic semiconductors
Altri titoli varianti: IEEE Std 1620-2004
Titolo autorizzato: IEEE standard for test methods for the characterization of organic transistors and materials  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 996278279303316
Lo trovi qui: Univ. di Salerno
Opac: Controlla la disponibilità qui