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Titolo: |
18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : proceedings : 3-5 November, 2003, Boston, Massachusetts
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Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : IEEE Computer Society Press, 2003 |
Soggetto topico: | Integrated circuits - Design and construction - Very large scale integration |
Fault-tolerant computing | |
Electrical & Computer Engineering | |
Electrical Engineering | |
Engineering & Applied Sciences | |
Persona (resp. second.): | BolchiniCristiana |
Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
Titolo autorizzato: | 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : proceedings : 3-5 November, 2003, Boston, Massachusetts ![]() |
Formato: | Materiale a stampa ![]() |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 996214789603316 |
Lo trovi qui: | Univ. di Salerno |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |