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Autore: | Amerasekera E. A |
Titolo: | ESD in silicon integrated circuits |
Pubblicazione: | [Place of publication not identified], : J Wiley, 2002 |
Edizione: | 2nd ed. |
Descrizione fisica: | 1 online resource (421 pages) |
Disciplina: | 621.3815/2 |
Soggetto topico: | Semiconductors - Protection |
Integrated circuits - Protection | |
Electrostatics | |
Static eliminators | |
Electrical & Computer Engineering | |
Engineering & Applied Sciences | |
Electrical Engineering | |
Persona (resp. second.): | DuvvuryCharvaka |
Note generali: | Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph |
Sommario/riassunto: | Electrostatic discharge (ESD) effects in silicon integrated circuits have become a major concern as high circuit density technologies shrink to sub-micron dimensions. This update of a classic reference provides a complete and current overview of ESD and its implications in the design and development of new semiconductor technologies and integrated circuits. |
Titolo autorizzato: | ESD in silicon integrated circuits |
ISBN: | 1-280-55472-X |
9786610554720 | |
0-470-85212-7 | |
0-470-84605-4 | |
Formato: | Materiale a stampa |
Livello bibliografico | Monografia |
Lingua di pubblicazione: | Inglese |
Record Nr.: | 9910146249503321 |
Lo trovi qui: | Univ. Federico II |
Opac: | Controlla la disponibilità qui |