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ESD in silicon integrated circuits



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Autore: Amerasekera E. A Visualizza persona
Titolo: ESD in silicon integrated circuits Visualizza cluster
Pubblicazione: [Place of publication not identified], : J Wiley, 2002
Edizione: 2nd ed.
Descrizione fisica: 1 online resource (421 pages)
Disciplina: 621.3815/2
Soggetto topico: Semiconductors - Protection
Integrated circuits - Protection
Electrostatics
Static eliminators
Electrical & Computer Engineering
Engineering & Applied Sciences
Electrical Engineering
Persona (resp. second.): DuvvuryCharvaka
Note generali: Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph
Sommario/riassunto: Electrostatic discharge (ESD) effects in silicon integrated circuits have become a major concern as high circuit density technologies shrink to sub-micron dimensions. This update of a classic reference provides a complete and current overview of ESD and its implications in the design and development of new semiconductor technologies and integrated circuits.
Titolo autorizzato: ESD in silicon integrated circuits  Visualizza cluster
ISBN: 1-280-55472-X
9786610554720
0-470-85212-7
0-470-84605-4
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: 9910146249503321
Lo trovi qui: Univ. Federico II
Opac: Controlla la disponibilità qui