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Design for Testability, Debug and Reliability : Next Generation Measures Using Formal Techniques / Sebastian Huhn, Rolf Drechsler



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Autore: Huhn, Sebastian Visualizza persona
Titolo: Design for Testability, Debug and Reliability : Next Generation Measures Using Formal Techniques / Sebastian Huhn, Rolf Drechsler Visualizza cluster
Pubblicazione: Cham, : Springer, 2021
Descrizione fisica: XXI, 164 p. : ill. ; 24 cm
Altri autori: Drechsler, Rolf  
Titolo autorizzato: Design for Testability, Debug and Reliability  Visualizza cluster
Formato: Materiale a stampa
Livello bibliografico Monografia
Lingua di pubblicazione: Inglese
Record Nr.: VAN0247157
Lo trovi qui: Univ. Vanvitelli
Localizzazioni e accesso elettronico https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-030-69209-4
Opac: Controlla la disponibilità qui