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| Titolo: |
Advanced mathematical tools in metrology 2. / edited by P. Ciarlini... [et al.]
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| Pubblicazione: | Singapore, : World Scientic, 1996 |
| Descrizione fisica: | ix, 287 p. ; 23 cm. |
| Soggetto topico: | 00B25 - Proceedings of conferences of miscellaneous specific interest [MSC 2020] |
| 62Nxx - Survival analysis and censored data [MSC 2020] | |
| 62Pxx - Applications of statistics [MSC 2020] | |
| Persona (resp. second.): | Ciarlini, Patrizia |
| Titolo autorizzato: | Advanced mathematical tools in metrology 2 ![]() |
| ISBN: | 98-10-22618-7 |
| Formato: | Materiale a stampa |
| Livello bibliografico | Monografia |
| Lingua di pubblicazione: | Inglese |
| Record Nr.: | SUN0027081 |
| Lo trovi qui: | Univ. Vanvitelli |
| Opac: | Controlla la disponibilità qui |