LEADER 02046nam2 22003613i 450 001 NAP0580098 005 20251003044256.0 100 $a20130703d2004 ||||0itac50 ba 101 | $afre$aeng 102 $ach 181 1$6z01$ai $bxxxe 182 1$6z01$an 200 1 $aˆPartie 25-6: ‰Essai 25f$ediagramme de l'oeil et gigue$fCommission electrotechnique internationale, International eletrotechnical commission 210 $aGeneva$cCommission electrotechnique internationale$d2004 215 $a35 p.$d30 cm 300 $aPubblicazione a fogli mobili 461 1$1001NAP0580091$12001 $aCEI IEC 60512$econnecteurs pour équipements électroniques - essais et mesures$enorme Internationale/ Commission electrotechnique internationale, International eletrotechnical commission$v25-6 510 1 $aˆPart. 25-6: ‰Test 25f$eeye pattern and jitter$9NAP0580101 710 02$aCommission électrotechnique internationale$3SBLV075072$4070$07403 711 02$aInternational electrotechnical commission$3RMSV013863$4070$07403 791 02$aCommission électrotechnique international$3UBSV004032$zInternational electrotechnical commission 791 02$aIEC$3USMV783283$zInternational electrotechnical commission 791 02$aInternational Electrotechnical Commission$3FRIV000226$zCommission électrotechnique internationale 791 02$aInternational electrotechnical commission$3PUVV237679$zCommission électrotechnique internationale 791 02$aCEI$c $3VEAV046234$zCommission électrotechnique internationale 791 02$aIEC$c $3VEAV454990$zCommission électrotechnique internationale 801 3$aIT$bIT-000000$c20130703 850 $aIT-BN0095 912 $aNAP0580098 950 2$aBiblioteca Centralizzata di Ateneo$cParte 25.6$d 01NORME CEI IEC 60512$e 0102 0000095275 VMA A4(00025.6 Parte 25.6$fB $h20121213$i20130703 977 $a 01 996 $aEssai 25f$91573782 997 $aUNISANNIO