LEADER 01827nam a2200361 i 4500 001 991000802499707536 005 20020506124035.0 008 951221s1980 it ||| | ita 035 $ab10131656-39ule_inst 035 $aLE00637100$9ExL 040 $aDip.to Fisica$bita 084 $a53(082.2) 084 $a53.7 084 $a53.8 084 $a621.3.2 084 $a621.381 110 2 $aUniversitą degli Studi $0255001 245 10$aAffidabilitą e fisica dei meccanismi di guasto dei semiconduttori :$bCastro Marina, Lecce, 22-27 settembre 1980 /$corganizzato dal Settore Semiconduttori del Gruppo Nazionale di struttura della materia del CNR e dall'Universitą di Lecce 260 $aBologna :$bTecnoprint,$c1980 300 $a690 p. ;$c24 cm. 490 0 $aSeminario scientifico-tecnico di Lecce ;$v3 650 4$aSemiconductors$xCongresses 710 2 $aConsiglio nazionale delle ricerche :$bGruppo Nazionale di struttura della materia. Settore Semiconduttori 907 $a.b10131656$b17-02-17$c27-06-02 912 $a991000802499707536 945 $aLE006 53.7+53.8 SEM$g1$i2006000059985$lle006$o-$pE0.00$q-$rl$s- $t0$u0$v0$w0$x0$y.i10154280$z27-06-02 945 $aLE006 53.7+53.8 SEM$g2$i2006000060202$lle006$o-$pE0.00$q-$rl$s- $t0$u0$v0$w0$x0$y.i10154292$z27-06-02 945 $aLE006 53.7+53.8 SEM$g3$i2006000060233$lle006$o-$pE0.00$q-$rl$s- $t0$u0$v0$w0$x0$y.i10154309$z27-06-02 945 $aLE006 53.7+53.8 SEM$g4$i2006000060240$lle006$o-$pE0.00$q-$rl$s- $t0$u0$v0$w0$x0$y.i10154310$z27-06-02 945 $aLE006 53.7+53.8 SEM$g5$i2006000060271$lle006$o-$pE0.00$q-$rl$s- $t0$u0$v0$w0$x0$y.i10154322$z27-06-02 996 $aAffidabilitą e fisica dei meccanismi di guasto dei semiconduttori$9186081 997 $aUNISALENTO 998 $ale006$b01-01-95$cm$da $e-$fita$git $h0$i5