LEADER 01319nam0-22002891i-450- 001 990005715880403321 005 19990530 035 $a000571588 035 $aFED01000571588 035 $a(Aleph)000571588FED01 035 $a000571588 100 $a19990530d1928----km-y0itay50------ba 101 0 $afre 105 $ay-------001yy 200 1 $a<>aspect gèographique de la lexicigraphie et de la stylistique. Un fait statistique par le principe que deux langues semblables s'influencent plus profondèment que deux langues prèsentant moins de ressemblance$fMatteo Bartoli 210 $aLeiden$cA.W. Sijthoff'S Uitgeversmaatschappij$d1928 215 $a8 p.$d29 cm 300 $aEstratto da: "Actes du premier Congrès International de linguistes" La Haye, 10-15 avril 1928 700 1$aBartoli,$bMatteo Giulio$f<1873-1946>$0219084 712 10$aCONGRÉS INTERNATIONAL DE LINGUITES, 1., La Haye 801 0$aIT$bUNINA$gRICA$2UNIMARC 901 $aBK 912 $a990005715880403321 952 $aGLOTT. A I f 24 (2)$bIST. GLOTT. S.I.$fFLFBC 959 $aFLFBC 996 $aAspect gèographique de la lexicigraphie et de la stylistique. Un fait statistique par le principe que deux langues semblables s'influencent plus profondèment que deux langues prèsentant moins de ressemblance$9574084 997 $aUNINA LEADER 02156nam 2200541Ia 450 001 9911004842303321 005 20240410151551.0 010 $a1-62708-268-9 010 $a1-61344-123-1 010 $a1-61503-137-5 035 $a(CKB)2550000000016625 035 $a(CtWfDGI)bke00042683 035 $a(SSID)ssj0000487800 035 $a(PQKBManifestationID)11316467 035 $a(PQKBTitleCode)TC0000487800 035 $a(PQKBWorkID)10446431 035 $a(PQKB)10853754 035 $a(Au-PeEL)EBL3002436 035 $a(CaPaEBR)ebr10374912 035 $a(OCoLC)647897125 035 $a(MiAaPQ)EBC3002436 035 $a(EXLCZ)992550000000016625 100 $a20090729d2009 uy 0 101 0 $aeng 135 $aurzn|||||| 181 $ctxt 182 $cc 183 $acr 200 10$aSystems failure analysis /$fJoseph Berk 210 $aMaterials Park, Ohio $cASM International$dc2009 215 $av, 202 p. $cill 300 $aTitle from title screen. 311 $a1-61503-012-3 320 $aIncludes bibliographical references and index. 327 $aIntro -- Contents -- Systems Failure Analysis Introduction -- Downsizing the Hidden Factory -- Systems and Systems Failure Analysis Concepts -- Identifying Potential Failure Causes -- Fault-Tree Analysis -- Fault-Tree Analysis Special Topics -- Fault-Tree Analysis Quantifi cation -- Failure Mode Assessment and Assignment -- Pedigree Analysis -- Change Analysis -- Analytical Equipment -- Mechanical and Electronic Failures -- Leaks -- Contaminants -- Design Analysis -- Statistics and Probability -- Design of Experiments -- Corrective Action -- Post-Failure-Analysis Activities -- Component Failure Causes and Suggested Analysis Methods -- Index. 606 $aSystem analysis 606 $aSystem failures (Engineering) 615 0$aSystem analysis. 615 0$aSystem failures (Engineering) 676 $a620.001/171 700 $aBerk$b Joseph$f1951-$0627455 801 0$bMiAaPQ 801 1$bMiAaPQ 801 2$bMiAaPQ 906 $aBOOK 912 $a9911004842303321 996 $aSystems failure analysis$94387735 997 $aUNINA