LEADER 04290nam 22004333 450 001 9910877744103321 005 20210901203355.0 010 $a3-527-82365-4 035 $a(CKB)4100000011559840 035 $a(MiAaPQ)EBC6386019 035 $a(Au-PeEL)EBL6386019 035 $a(OCoLC)1206401978 035 $a(NjHacI)994100000011559840 035 $a(EXLCZ)994100000011559840 100 $a20210901d2020 uy 0 101 0 $ager 135 $aurcnu|||||||| 181 $ctxt$2rdacontent 182 $cc$2rdamedia 183 $acr$2rdacarrier 200 10$aICP Emissionsspektrometrie Fu?r Praktiker $eGrundlagen, Methodenentwicklung, Anwendungsbeispiele 205 $a2nd ed. 210 1$aNewark :$cJohn Wiley & Sons, Incorporated,$d2020. 210 4$d©2021. 215 $a1 online resource (287 pages) 311 $a3-527-34658-9 327 $aCover -- Titelseite -- Impressum -- Inhaltsverzeichnis -- Vorwort zur 2. Auflage -- Vorwort zur 1. Auflage -- Verzeichnis der Abku?rzungen -- 1 Ein U?berblick -- 1.1 Analytische Merkmale der ICP OES -- 1.2 ICP OES - nomen est omen -- 1.3 Verbreitung der ICP OES -- 1.4 Weitere Techniken zur Elementanalytik -- 1.5 Begriffe -- 2 Plasma -- 2.1 Das analytisch genutzte Plasma -- 2.1.1 Betriebsgas -- 2.1.2 Plasmafackel -- 2.1.3 Zu?nden des Plasmas -- 2.1.4 Orientierung des Plasmas bzw. der Fackel -- 2.2 Anregung zur Emission von elektromagnetischer Strahlung -- 2.2.1 Emissionslinien -- 2.2.2 Energie und Temperatur -- 2.2.3 Spektroskopische Eigenschaften des ICP -- 2.2.4 Plasmabeobachtung -- 2.3 Anregungseinheit -- 2.3.1 Hochfrequenzgenerator -- 2.3.2 Induktionsspule -- 2.4 Probeneinfu?hrungssystem -- 2.4.1 Zersta?uber -- 2.4.2 Zersta?uberkammer -- 2.4.3 Pumpe -- 2.4.4 Sonstige Formen des Probeneintrags -- 3 Optik und Detektor des Spektrometers -- 3.1 Optische Grundlagen -- 3.1.1 Auflo?sung -- 3.1.2 Relevante Grundbegriffe der Optik -- 3.1.3 Optische Aufbauten -- 3.1.4 Lichttransfer vom Plasma zur Optik -- 3.2 Detektor -- 3.2.1 Photomultiplier-Tube (PMT) -- 3.2.2 Halbleiterdetektoren -- 3.3 Apparativer Aufbau eines Emissionsspektrometers -- 3.3.1 Klassische Spektrometer -- 3.3.2 Array-Spektrometer -- 4 Methodenentwicklung -- 4.1 Wellenla?ngenauswahl -- 4.1.1 Arbeitsbereich -- 4.1.2 Spektrale Sto?rfreiheit -- 4.2 Auswerte- und Korrekturtechniken -- 4.2.1 Signalauswertung -- 4.2.2 Untergrundkorrektur -- 4.2.3 Einfluss der Peakauswertung und Untergrundkorrektur auf die Nachweisgrenzen -- 4.2.4 Korrektur spektraler Sto?rungen -- 4.3 Nicht-spektrale Sto?rungen -- 4.3.1 Korrektur nicht-spektraler Sto?rungen -- 4.4 Optimierung -- 4.4.1 Optimierungsziele -- 4.4.2 Optimierungsparameter -- 4.4.3 Optimierungsalgorithmen -- 4.5 Validierung -- 4.5.1 Richtigkeit und Spezifita?t. 327 $a4.5.2 Wiederholbarkeit -- 4.5.3 Nachweisgrenze -- 4.5.4 Arbeitsbereich -- 4.5.5 Robustheit -- 5 Routineanalyse -- 5.1 Vorbereitung -- 5.1.1 Probenvorbereitung -- 5.1.2 Einbrennzeit -- 5.1.3 Spu?lzeiten -- 5.2 Kalibrieren -- 5.2.1 Bezugslo?sungen -- 5.2.2 Kalibrierfunktionen -- 5.2.3 Bewerten der Kalibrierung -- 5.3 Analytische Qualita?tssicherung -- 5.4 Software und Datenbearbeitung -- 6 Fehler: Ursachen finden und vermeiden -- 7 Anwendungen -- 7.1 Allgemeine Hinweise -- 7.1.1 Gefa?ßmaterial -- 7.1.2 Stabilita?t von Lo?sungen -- 7.1.3 Matrixeffekte -- 7.1.4 Kontaminationen -- 7.2 Hinweise zu einzelnen Elementen -- 7.3 Ausgewa?hlte Anwendungen -- 7.3.1 Umwelt -- 7.3.2 Proben biologischen Ursprungs -- 7.3.3 Geologisches Material -- 7.3.4 Metallurgie -- 7.3.5 Materialwissenschaften -- 7.3.6 Industrielle Anwendungen -- 7.3.7 Organische Lo?sungsmittel -- 8 Beschaffung und Laborvorbereitung -- 8.1 Welche atomspektrometrische Technik ist geeignet? -- 8.2 Welches ICP Emissionsspektrometer ist geeignet? -- 8.3 Vorbereitung des Labors -- Literatur -- Stichwortverzeichnis -- EULA. 606 $aInductively coupled plasma atomic emission spectrometry 615 0$aInductively coupled plasma atomic emission spectrometry. 676 $a543.6 700 $aNo?lte$b Joachim$01606468 801 0$bMiAaPQ 801 1$bMiAaPQ 801 2$bMiAaPQ 906 $aBOOK 912 $a9910877744103321 996 $aICP Emissionsspektrometrie Fu?r Praktiker$94201941 997 $aUNINA