LEADER 02582nam 2200445 450 001 9910796272103321 005 20230803214852.0 010 $a2-39009-004-4 035 $a(CKB)3790000000019344 035 $a(EBL)2118725 035 $a(Au-PeEL)EBL2118725 035 $a(OCoLC)915311741 035 $a(MiAaPQ)EBC2118725 035 $a(EXLCZ)993790000000019344 100 $a20200124d2014 uy 0 101 0 $afre 135 $aur|n|---||||| 181 $ctxt$2rdacontent 182 $cc$2rdamedia 183 $acr$2rdacarrier 200 10$aDu paradis a? l'enfer $e23 ans chez les te?moins de Je?hovah /$fMiche?le Bastin 210 1$aBruxelles ;$aParis :$cJLC,$d[2014] 215 $a1 online resource (248 p.) 225 0 $aTe?moignage & document 300 $aDescription based upon print version of record. 311 $a2-87462-033-5 327 $aCouverture; Page de titre; Chapitre I : Ma vie avant de les connai?tre; Chapitre II : Je deviens une adepte; Chapitre III : Mes petites princesses; Chapitre IV : En route vers la ville de refuge; Chapitre V : Mes premiers doutes; Chapitre VI : Pauline; Chapitre VII : Le de?clic; Chapitre VIII : J'accuse; Chapitre IX : Te?moignages; Chapitre X : AVCS, notre association; Chapitre XI : Armelle s'e?loigne; Chapitre XII : Un nouvel amour dans la famille; Chapitre XIII : Et maintenant ?; Glossaire; Postface; Remerciements; Annexe I : Conseils aux proches d'adeptes 327 $aAnnexe II : Les e?tapes a? franchir pour retrouver une vie normaleAnnexe III : Dix crite?res qui doivent vous faire re?fle?chir; Copyright 330 $a Pourquoi devient-on Te?moin de Je?hovah ? Qui sont-ils exactement ? Comment agissent-ils ?Apre?s avoir passe? 23 ans chez les Te?moins de Je?hovah, l'auteur nous livre un te?moignage bouleversant, cruel de ve?rite? et de re?alisme, sur son quotidien au sein de cette communaute?. Avec Miche?le Bastin, nous entrons dans cet univers inconnu et terrifiant fait de pre?ceptes et d'interdits. Avec elle, nous refaisons tout le parcours depuis que, jeune femme abandonne?e, enceinte et affaiblie psychologiquement, elle a cru trouver re?confort et protection parmi ses « Fre?res et Soeurs » jusqu'a? son de?part, 23 ans ap 606 $aJehovah's Witnesses 615 0$aJehovah's Witnesses. 676 $a289.92 700 $aBastin$b Miche?le$01546335 801 0$bMiAaPQ 801 1$bMiAaPQ 801 2$bMiAaPQ 906 $aBOOK 912 $a9910796272103321 996 $aDu paradis a? l'enfer$93801881 997 $aUNINA LEADER 04047nam 22006615 450 001 9910337930303321 005 20200703160256.0 010 $a3-030-13654-X 024 7 $a10.1007/978-3-030-13654-3 035 $a(CKB)4100000008280440 035 $a(MiAaPQ)EBC5780030 035 $a(DE-He213)978-3-030-13654-3 035 $a(PPN)236522485 035 $a(EXLCZ)994100000008280440 100 $a20190523d2019 u| 0 101 0 $aeng 135 $aurcnu|||||||| 181 $ctxt$2rdacontent 182 $cc$2rdamedia 183 $acr$2rdacarrier 200 10$aAtomic Force Microscopy /$fby Bert Voigtländer 205 $a2nd ed. 2019. 210 1$aCham :$cSpringer International Publishing :$cImprint: Springer,$d2019. 215 $a1 online resource (329 pages) 225 1 $aNanoScience and Technology,$x1434-4904 311 $a3-030-13653-1 327 $aIntroduction -- Part I: Scanning Probe Microscopy Instrumentation -- Harmonic Oscillator -- Technical Aspects of Scanning Probe Microscopy -- Scanning Probe Microscopy Designs -- Electronics for Scanning Probe Microscopy -- Lock-In Technique -- Data Representation and Image Processing -- Artifacts in SPM -- Work Function, Contact Potential, and Kelvin Probe -- Part II: Atomic Force Microscopy (AFM) -- Forces between Tip and Sample -- Technical Aspects of Atomic Force Microscopy -- Static Atomic Force Microscopy -- Amplitude Modulation (AM) Mode in Dynamic Atomic Force Microscopy -- Intermittent Contact Mode/Tapping Mode -- Mapping of Mechanical Properties Using Force-Distance -- Frequency Modulation (FM) Mode in Dynamic Atomic Force -- Noise in Atomic Force Microscopy -- Quartz Sensors in Atomic Force Microscopy. 330 $aThis book explains the operating principles of atomic force microscopy with the aim of enabling the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope. This enhanced second edition to "Scanning Probe Microscopy" (Springer, 2015) represents a substantial extension and revision to the part on atomic force microscopy of the previous book. Covering both fundamental and important technical aspects of atomic force microscopy, this book concentrates on the principles the methods using a didactic approach in an easily digestible manner. While primarily aimed at graduate students in physics, materials science, chemistry, nanoscience and engineering, this book is also useful for professionals and newcomers in the field, and is an ideal reference book in any atomic force microscopy lab. 410 0$aNanoScience and Technology,$x1434-4904 606 $aSpectrum analysis 606 $aMicroscopy 606 $aNanotechnology 606 $aNanoscience 606 $aNanoscience 606 $aNanostructures 606 $aSpectroscopy and Microscopy$3https://scigraph.springernature.com/ontologies/product-market-codes/P31090 606 $aNanotechnology$3https://scigraph.springernature.com/ontologies/product-market-codes/Z14000 606 $aNanotechnology and Microengineering$3https://scigraph.springernature.com/ontologies/product-market-codes/T18000 606 $aNanoscale Science and Technology$3https://scigraph.springernature.com/ontologies/product-market-codes/P25140 606 $aBiological Microscopy$3https://scigraph.springernature.com/ontologies/product-market-codes/L26000 615 0$aSpectrum analysis. 615 0$aMicroscopy. 615 0$aNanotechnology. 615 0$aNanoscience. 615 0$aNanoscience. 615 0$aNanostructures. 615 14$aSpectroscopy and Microscopy. 615 24$aNanotechnology. 615 24$aNanotechnology and Microengineering. 615 24$aNanoscale Science and Technology. 615 24$aBiological Microscopy. 676 $a502.82 676 $a620.5 700 $aVoigtländer$b Bert$4aut$4http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut$0770205 906 $aBOOK 912 $a9910337930303321 996 $aAtomic Force Microscopy$91570972 997 $aUNINA