LEADER 01051nam0-22003251i-450- 001 990002960770403321 005 20091104192601.0 010 $a88-458-0239-6 035 $a000296077 035 $aFED01000296077 035 $a(Aleph)000296077FED01 035 $a000296077 100 $a20030910d1999----km-y0itay50------ba 101 0 $aita 200 1 $a<>bilanci consuntivi delle Comunità montane$eanno 1997$fIstituto Nazionale di Statistica$ga cura di Simona Carbone 210 $aRoma$cIstat$d1999 215 $a25 p.$d30 cm$edischetto 225 1 $aInformazioni$fIstat$v33 300 $aIn testa al frontespizio: "Sistema statistico nazionale. Istituto Nazionale di Statistica" 610 0 $aItalia$abilanci consuntivi$a1997 676 $a350.72 702 1$aCarbone,$bSimona 710 02$aIstat$0374421 801 0$aIT$bUNINA$gRICA$2UNIMARC 901 $aBK 912 $a990002960770403321 952 $aCDI-I-33-99-Pos-2$b7406$fMAS 959 $aMAS 996 $aBilanci consuntivi delle Comunità montane$9466021 997 $aUNINA LEADER 01542nam0 2200349 i 450 001 SUN0125711 005 20200330012829.26 010 $d0.00 017 70$2N$a9783319939254 100 $a20191203d2018 |0engc50 ba 101 $aeng 102 $aCH 105 $a|||| ||||| 200 1 $a*Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies$eOrigin, Characterization, Control, and Device Impact$fCor Claeys, Eddy Simoen 205 $aCham : Springer, 2018 210 $aXXXIII$d438 p.$cill. ; 24 cm 215 $aPubblicazione in formato elettronico 410 1$1001SUN0023990$12001 $a*Springer series in materials science$v270$1210 $aBerlin$cSpringer$d1986-. 620 $aCH$dCham$3SUNL001889 676 $a621.36$cIngegneria ottica. Ottica applicata$v22 676 $a620.1$cScienza dei materiali$v22 676 $a541.377$cSemiconduttori$v22 676 $a537.5344$cMicroonde e onde a frequenza ultraalta$v22 700 1$aClaeys$b, Cor$3SUNV097129$0769287 701 1$aSimoen$b, Eddy$3SUNV097130$0769288 712 $aSpringer$3SUNV000178$4650 801 $aIT$bSOL$c20200921$gRICA 856 4 $uhttps://link.springer.com/book/10.1007%2F978-3-319-93925-4#toc 912 $aSUN0125711 950 $aUFFICIO DI BIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI SCIENZE E TECNOLOGIE AMBIENTALI BIOLOGICHE E FARMACEUTICHE$d17CONS e-book 2112 $e17BIB2112 261 20191203 996 $aMetal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies$91568124 997 $aUNICAMPANIA