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105   $a||||    1||||
200 1 $aRazionalizzazione e relazioni industriali nella pubblica amministrazione$fa cura di Carlo Dell'Aringa e Giuseppe Della Rocca
205   $aMilano : F. Angeli$b[1999]
210   $d187 p. ; 22 cm
215   $aParte delle relazioni presentate a un seminario tenuto a Roma nel 1996.
410  1$1001VAN0007179$12001 $aQuaderni Aran$1210  $aMilano$cAngeli.$v10
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182   $ab
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200 1 $aDielectric Breakdown in Gigascale Electronics$eTime Dependent Failure Mechanisms$fJuan Pablo Borja, Toh-Ming Lu, Joel Plawsky
210   $aCham$cSpringer$d2016
215   $aVIII, 105 p.$cill.$d24 cm
410  1$1001VAN00123245$12001 $aSpringerBriefs in Materials$1210  $aCham [etc.]$cSpringer
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701  1$aPlawsky$bJoel$3VANV198859$01213860
712   $aSpringer <editore>$3VANV108073$4650
801   $aIT$bSOL$c20251121$gRICA
856 4 $uhttps://link.springer.com/book/10.1007/978-3-319-43220-5$zE-book - Accesso al full-text attraverso riconoscimento IP di Ateneo, proxy e/o Shibboleth
899   $aBIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI SCIENZE E TECNOLOGIE AMBIENTALI BIOLOGICHE E FARMACEUTICHE$1IT-CE0101$2VAN17
912   $fN
912   $aVAN00243349
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996   $aDielectric Breakdown in Gigascale Electronics$92803372
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