LEADER 01506nam0 22002773i 450 001 SUN0060254 005 20180724094036.853 100 $a20070705d2007 |0itac50 ba 101 $aita 102 $aIT 105 $a|||| ||||| 200 1 $aAmbre$etrasparenze dall'antico$eNapoli, Museo Archeologico nazionale, 26 marzo 10 settembre 2007$fa cura di Maria Luisa Nava, Antonio Salerno 205 $aMilano : Electa$bc2007 210 $d311 p. : ill. ; 28 cm 215 $aIn testa al front.: Regione Campania, Assessorato al turismo e ai beni culturali; Progetto co-finanziato dall'Unione Europea; Progetto magnifico; Ministero per i beni e le attivita culturali, Direzione Regionale per i beni culturali e paesaggistici della regione Campania, Soprintendenza per i beni archeologici delle province di Napoli e Caserta; Soprintendenza archeologica di Pompei. 606 $aAmbra$xEsposizioni$x2007$2FI$3SUNC021162 620 $dMilano$3SUNL000284 702 1$aSalerno$b, Antonio$3SUNV003889 702 1$aNava$b, Maria Luisa$3SUNV038794 712 $aElecta$3SUNV008644$4650 801 $aIT$bSOL$c20181109$gRICA 912 $aSUN0060254 950 $aUFFICIO DI BIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI LETTERE E BENI CULTURALI$d07 CONS Cb Napoli 2007/I $e07 DP 3823 995 $aUFFICIO DI BIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI LETTERE E BENI CULTURALI$bIT-CE0103$gDP$h3823$kCONS Cb Napoli 2007/I$oc$qa 996 $aAmbre$91025418 997 $aUNICAMPANIA LEADER 01201nam 2200313 450 001 996575457503316 005 20231209100007.0 010 $a1-5044-5975-X 035 $a(CKB)4100000009070607 035 $a(NjHacI)994100000009070607 035 $a(EXLCZ)994100000009070607 100 $a20231209d2019 uy 0 101 0 $aeng 135 $aur||||||||||| 181 $ctxt$2rdacontent 182 $cc$2rdamedia 183 $acr$2rdacarrier 200 10$a1505.1-2019 - IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505 /$fInstitute of Electrical and Electronics Engineers 210 1$a[Place of publication not identified] :$cIEEE,$d2019. 215 $a1 online resource (48 pages) 606 $aAutomatic test equipment 615 0$aAutomatic test equipment. 676 $a621.381548 801 0$bNjHacI 801 1$bNjHacl 906 $aDOCUMENT 912 $a996575457503316 996 $a1505.1-2019 - IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505$92582250 997 $aUNISA