00772nam0-22002771i-450-99000073562040332120001010000073562FED01000073562(Aleph)000073562FED0100007356220001010d--------km-y0itay50------baitay-------001yyAutoritratti del seicento e del settecentoMichelangelo MasciottaFirenzeElecta194964 p.ill.17 cmMasciotta,Michelangelo36929ITUNINARICAUNIMARCBK990000735620403321MON A 103568FARBCFARBCAutoritratti del seicento e del settecento322627UNINAING0102402nam0 22005173i 450 MIL030256320251003044231.0079239564620091130d1995 ||||0itac50 baengusz01i xxxe z01nAnalog signal generation for Built-in-self-test of mixed-signal integrated circuitsby Gordon W. Roberts, Albert K. LuBoston [etc.]Kluwer Academicc1995VIII, 122 p.23 cmˆThe ‰Kluwer international series in engineering and computer science. Analog circuits and signal processing312Bibliografia: P. 117-119.001MIL01357372001 ˆThe ‰Kluwer international series in engineering and computer science. Analog circuits and signal processing312Circuiti integratiProgettazioneFIRMILC095947ECIRCUITI INTEGRATIPROVEFIRMILC113505IRivelatoriFIRCFIC017315IStrumenti elettronici per misureFIRCFIC101066E621.3815ELETTRONICA. COMPONENTI E CIRCUITI14621.38154822ChipCircuiti elettronici integratiChipCircuiti elettronici integratiAvvisatoriStrumenti per misure elettroniciStrumenti di misurazione elettronicaCircuiti integratiChipCircuiti integratiCircuiti elettronici integratiCircuiti integratiChipCircuiti integratiCircuiti elettronici integratiRivelatoriAvvisatoriStrumenti elettronici per misureStrumenti per misure elettroniciStrumenti elettronici per misureStrumenti di misurazione elettronicaRoberts, Gordon W.RMSV005939070770532Lu, Albert K. <1969- >MILV171247070770533ITIT-00000020091130IT-BN0095 NAP 01SALA DING $MIL0302563Biblioteca Centralizzata di Ateneo1 v. 01SALA DING 621.3815 ROB.an 0102 0000028525 VMA A4 1 v.Y 1997121219971212 01Analog signal generation for Built-in-self-test of mixed-signal integrated circuits1572322UNISANNIO