01626nam a2200301 i 4500991002392919707536080910s2008 it ad 100 0 ita d97888492143148849214316b14166975-39ule_instBibl. Interfacoltà T. PellegrinoitaScienza & ricerca per i beni culturali :microscopia elettronica a scansione e microanalisi /a cura di Flavia Pinzari ; testi di M.C. Berardi ... [et al.] ; traduzioni di M. LiveseyScienza e ricerca per i beni culturali :microscopia elettronica a scansione e microanalisiMicroscopia elettronica a scansione e microanalisiRoma :Gangemi,200895 p. :ill. ;24 cm.Quaderni / Istituto Centrale per la Patologia del libro ;2Il presente volume raccoglie i contributi di esperti intervenuti al Convegno dal titolo Microscopia elettronica a pressione variabile (SEM-VP) e microanalisi (EDS) per la diagnostica, la conservazione ed il restauro dei beni culturali che si è tenuto a Ferrara nel 2007Patrimonio culturaleTutelaApplicazioni della microscopia elettronica Pinzari, FlaviaBerardi, Maria CristinaLivesey, Mark.b1416697502-04-1405-12-13991002392919707536LE002 Bib. Ris. 438/00212002000886262le002pE14.40-no 00000.i1556162805-12-13Scienza & ricerca per i beni culturali260416UNISALENTOle00205-12-13ma -itait 00