01184nam a2200253 i 450099100084292970753620020507102206.0930517s1972 it m 0|| | ita db10137348-39ule_instLE00637804ExLDip.to FisicaengStefanelli, Rocco461295Caratterizzazione di diaframmi di silicio a strati diffusi da utilizzare in misuratori di pression. Tesi di laurea /laureando Rocco Stefanelli ; relatori A. Alberigi Quaranta e A. TaroniLecce :Università degli Studi. Facoltà di Scienze. Corso di laurea in Fisica,a.a. 1971-72103 p. ;30 cmTesi. Università degli Studi di Lecce, 1972Taroni, A.Alberigi Quaranta, Alessandro.b1013734802-04-1427-06-02991000842929707536LE006 T3512006000096102le006-E0.00-no 00000.i1016221527-06-02Caratterizzazione di diaframmi di silicio a strati diffusi da utilizzare in misuratori di pression. Tesi di laurea185646UNISALENTOle00601-01-93ma -itait 01