01827nam a2200361 i 450099100080249970753620020506124035.0951221s1980 it ||| | ita b10131656-39ule_instLE00637100ExLDip.to Fisicaita53(082.2)53.753.8621.3.2621.381Università degli Studi <Lecce>255001Affidabilità e fisica dei meccanismi di guasto dei semiconduttori :Castro Marina, Lecce, 22-27 settembre 1980 /organizzato dal Settore Semiconduttori del Gruppo Nazionale di struttura della materia del CNR e dall'Università di LecceBologna :Tecnoprint,1980690 p. ;24 cm.Seminario scientifico-tecnico di Lecce ;3SemiconductorsCongressesConsiglio nazionale delle ricerche :Gruppo Nazionale di struttura della materia. Settore Semiconduttori.b1013165617-02-1727-06-02991000802499707536LE006 53.7+53.8 SEM12006000059985le006-E0.00-l- 00000.i1015428027-06-02LE006 53.7+53.8 SEM22006000060202le006-E0.00-l- 00000.i1015429227-06-02LE006 53.7+53.8 SEM32006000060233le006-E0.00-l- 00000.i1015430927-06-02LE006 53.7+53.8 SEM42006000060240le006-E0.00-l- 00000.i1015431027-06-02LE006 53.7+53.8 SEM52006000060271le006-E0.00-l- 00000.i1015432227-06-02Affidabilità e fisica dei meccanismi di guasto dei semiconduttori186081UNISALENTOle00601-01-95ma -itait 05