01216nam a22002651i 450099100336909970753620040331215521.0040802s1897 fr |||||||||||||||||fre b13064538-39ule_instARCHE-101714ExLBiblioteca InterfacoltàitaA.t.i. Arché s.c.r.l. Pandora Sicilia s.r.l.840.9Darmesteter, Arsène403341Le seizième siècle en France :tableau de la littérature et de la langue suivi de Morceaux en prose et en vers choisis dans les principaux écrivains de cette époque /par A. Darmesteter, Adolphe Hatzfeld6. éd., revue et corrigéeParis :Ch. Delagrave,1897XIV, 384 p. ;19 cmLetteratura franceseSec. 16.Hatzfeld, Adolpheauthorhttp://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut164969.b1306453802-04-1405-08-04991003369099707536LE002 Fondo Giudici D 87212002000239853le002C. 1-E0.00-no 00000.i1369119305-08-04Seizième siècle en France1450042UNISALENTOle00205-08-04ma -frefr 3100954nam0 22003133i 450 99654787200331620230927095556.0978-88-7187-379-420230727d2023----||||0itac50 baitaITManuale di diritto del lavoroAldo Bottini, Giampiero Falasca, Angelo Zambelliprefazione di Arturo MarescaMilanoGruppo 24 ore2023XIV, 649 p.24 cm.<<I >> libri di Guida al lavoro<<I >> libri di Guida al lavoroNNNBNCFNNNBOTTINI,Aldo1424988FALASCA,Giampiero295306ZAMBELLI,Angelo608086MARESCA,ArturoITcbacbaREICAT996547872003316XXI.6. 84496403 G.XXI.6.556709BKGIUManuale di diritto del lavoro3554820UNISA04294nam 22004333 450 991083091420332120210901203355.03-527-82365-4(CKB)4100000011559840(MiAaPQ)EBC6386019(Au-PeEL)EBL6386019(OCoLC)1206401978(NjHacI)994100000011559840(EXLCZ)99410000001155984020210901d2020 uy 0gerurcnu||||||||txtrdacontentcrdamediacrrdacarrierICP Emissionsspektrometrie Für Praktiker Grundlagen, Methodenentwicklung, Anwendungsbeispiele2nd ed.Newark :John Wiley & Sons, Incorporated,2020.©2021.1 online resource (287 pages)3-527-34658-9 Cover -- Titelseite -- Impressum -- Inhaltsverzeichnis -- Vorwort zur 2. Auflage -- Vorwort zur 1. Auflage -- Verzeichnis der Abkürzungen -- 1 Ein Überblick -- 1.1 Analytische Merkmale der ICP OES -- 1.2 ICP OES - nomen est omen -- 1.3 Verbreitung der ICP OES -- 1.4 Weitere Techniken zur Elementanalytik -- 1.5 Begriffe -- 2 Plasma -- 2.1 Das analytisch genutzte Plasma -- 2.1.1 Betriebsgas -- 2.1.2 Plasmafackel -- 2.1.3 Zünden des Plasmas -- 2.1.4 Orientierung des Plasmas bzw. der Fackel -- 2.2 Anregung zur Emission von elektromagnetischer Strahlung -- 2.2.1 Emissionslinien -- 2.2.2 Energie und Temperatur -- 2.2.3 Spektroskopische Eigenschaften des ICP -- 2.2.4 Plasmabeobachtung -- 2.3 Anregungseinheit -- 2.3.1 Hochfrequenzgenerator -- 2.3.2 Induktionsspule -- 2.4 Probeneinführungssystem -- 2.4.1 Zerstäuber -- 2.4.2 Zerstäuberkammer -- 2.4.3 Pumpe -- 2.4.4 Sonstige Formen des Probeneintrags -- 3 Optik und Detektor des Spektrometers -- 3.1 Optische Grundlagen -- 3.1.1 Auflösung -- 3.1.2 Relevante Grundbegriffe der Optik -- 3.1.3 Optische Aufbauten -- 3.1.4 Lichttransfer vom Plasma zur Optik -- 3.2 Detektor -- 3.2.1 Photomultiplier-Tube (PMT) -- 3.2.2 Halbleiterdetektoren -- 3.3 Apparativer Aufbau eines Emissionsspektrometers -- 3.3.1 Klassische Spektrometer -- 3.3.2 Array-Spektrometer -- 4 Methodenentwicklung -- 4.1 Wellenlängenauswahl -- 4.1.1 Arbeitsbereich -- 4.1.2 Spektrale Störfreiheit -- 4.2 Auswerte- und Korrekturtechniken -- 4.2.1 Signalauswertung -- 4.2.2 Untergrundkorrektur -- 4.2.3 Einfluss der Peakauswertung und Untergrundkorrektur auf die Nachweisgrenzen -- 4.2.4 Korrektur spektraler Störungen -- 4.3 Nicht-spektrale Störungen -- 4.3.1 Korrektur nicht-spektraler Störungen -- 4.4 Optimierung -- 4.4.1 Optimierungsziele -- 4.4.2 Optimierungsparameter -- 4.4.3 Optimierungsalgorithmen -- 4.5 Validierung -- 4.5.1 Richtigkeit und Spezifität.4.5.2 Wiederholbarkeit -- 4.5.3 Nachweisgrenze -- 4.5.4 Arbeitsbereich -- 4.5.5 Robustheit -- 5 Routineanalyse -- 5.1 Vorbereitung -- 5.1.1 Probenvorbereitung -- 5.1.2 Einbrennzeit -- 5.1.3 Spülzeiten -- 5.2 Kalibrieren -- 5.2.1 Bezugslösungen -- 5.2.2 Kalibrierfunktionen -- 5.2.3 Bewerten der Kalibrierung -- 5.3 Analytische Qualitätssicherung -- 5.4 Software und Datenbearbeitung -- 6 Fehler: Ursachen finden und vermeiden -- 7 Anwendungen -- 7.1 Allgemeine Hinweise -- 7.1.1 Gefäßmaterial -- 7.1.2 Stabilität von Lösungen -- 7.1.3 Matrixeffekte -- 7.1.4 Kontaminationen -- 7.2 Hinweise zu einzelnen Elementen -- 7.3 Ausgewählte Anwendungen -- 7.3.1 Umwelt -- 7.3.2 Proben biologischen Ursprungs -- 7.3.3 Geologisches Material -- 7.3.4 Metallurgie -- 7.3.5 Materialwissenschaften -- 7.3.6 Industrielle Anwendungen -- 7.3.7 Organische Lösungsmittel -- 8 Beschaffung und Laborvorbereitung -- 8.1 Welche atomspektrometrische Technik ist geeignet? -- 8.2 Welches ICP Emissionsspektrometer ist geeignet? -- 8.3 Vorbereitung des Labors -- Literatur -- Stichwortverzeichnis -- EULA.Inductively coupled plasma atomic emission spectrometryInductively coupled plasma atomic emission spectrometry.543.6Nölte Joachim1606468MiAaPQMiAaPQMiAaPQBOOK9910830914203321ICP Emissionsspektrometrie für Praktiker3932276UNINA