04365nam1 2200637 i 450 REA004264720231121125648.019980917g1998 ||||0itac50 baitaitz01i xxxe z01nDiritto del lavorocommentario diretto da Franco CarinciTorinoUTET[poi] UTET giuridica volumi22 cm001LO111900652001 I codici001URB04671392001 5: Il lavoro nelle pubbliche amministrazionia cura di F. Carinci e L. Zoppoli.5702 1Carinci, FrancoCFIV004288702 1Zoppoli, LorenzoCFIV037498001URB06374652001 2: Il rapporto di lavoro subordinatocostituzione e svolgimentoa cura di C. Cester2702 1Cester, CarloCFIV001718001PUV10963502001 8: Ambiente e sicurezza del lavoroa cura di M. Rusciano e G. Natullo8001RAV15493032001 7: Il diritto penale del lavoroN. Mazzacuva e E. Amati7001REA00426462001 1: Le fonti, il diritto sindacalea cura di C. Zoli1001REA00426482001 2: Il rapporto di lavoro subordinatocostituzione e svolgimentoa cura di C. Cester2001REA00426502001 3: Il rapporto di lavoro subordinatogaranzie del reddito, estinzione e tutela dei dirittia cura di M. Miscione3001RMG02286712001 9: Diritto del lavoro dell'Unione europeaa cura di F. Carinci e A. Pizzoferrato9001RML03066682001 1. Le fonti, il diritto sindacalea cura di C. Zoli001RML03066722001 2. Il rapporto di lavoro subordinatocostituzione e svolgimentoa cura di C. Cester001RML03066782001 3. Il rapporto di lavoro subordinatogaranzie del reddito, estinzione e tutela dei dirittia cura di M. Miscione001RML03066802001 8. Ambiente e sicurezza del lavoroM. Rusciano e G. Natullo001RML03066822001 8. Ambiente e sicurezza del lavoroappendice di aggiornamento alla legge 3 agosto 2007, n. 123M. Rusciano e G. Natullo001RML03066862001 Codice del lavoro nelle pubbliche amministrazionicon rassegna di giurisprudenza e itinerari di dottrinaa cura di Franco Carinci, Sandro Mainardi, Valerio Talamo001RML03409152000 Indici1001TO016165202001 1: Le fonti, il diritto sindacalea cura di C. Zoli1001TO016347682001 Indici1.-2.-3.a cura di S. Palladinicon la collaborazione di A. Montanari, M. Navilli001UBO26584282001 6: Il processo del lavoroa cura di D. Borghesi6001URB04412422001 4: La previdenza complementarea cura di M. Bessone e F. Carinci4001URB06376382001 3: Il rapporto di lavoro subordinatogaranzie del reddito, estinzione e tutela dei dirittia cura di M. Miscione3001USM17386682001 8: Ambiente e sicurezza del lavoro. Appendice di aggiornamento alla Legge 3 agosto 2007, n. 123a cura di M. Rusciano e G. Natullo8Diritto del lavoroFIRRMLC022524EDiritto del lavoroItaliaFIRRMLC177392I344.450121344.45010263821Carinci, FrancoCFIV004288ITIT-0119980917IT-RM028 IT-RM0289 IT-FR0084 IT-RM0314 IT-RM0198 IT-RM1164 IT-RM0574 Biblioteca Universitaria AlessandrinaRM028 Biblioteca Statale A. BaldiniRM0289 Biblioteca Del Monumento Nazionale Di MontecassinoFR0084 Biblioteca delle Infrastrutture e della mobilità sostenibiliRM0314 BIBLIOTECA DEL TRASPORTO TERRESTRERM0198 Biblioteca Luca Pacioli Dipartimento RagioneriaRM1164 Biblioteca del Consiglio nazionale dell'economia e del lavoroRM0574 REA004264721 01 04 25 31 32 40 53 61Diritto del lavoro57896UNICAS01926oam 2200505zu 450 991087273300332120241212215007.0(CKB)111026746740838(SSID)ssj0000442249(PQKBManifestationID)12154657(PQKBTitleCode)TC0000442249(PQKBWorkID)10462639(PQKB)11198942(EXLCZ)9911102674674083820160829d1995 uy engtxtccrRecords of the 1995 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing, August 7-8, 1995, San Jose, California[Place of publication not identified]IEEE Computer Society Press1995Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph9780818671029 0818671025 Semiconductor storage devicesTestingCongressesRandom access memoryCongressesElectrical & Computer EngineeringHILCCEngineering & Applied SciencesHILCCElectrical EngineeringHILCCSemiconductor storage devicesTestingCongresses.Random access memoryCongresses.Electrical & Computer EngineeringEngineering & Applied SciencesElectrical Engineering621.39/732Rajsuman RochitRajkanan KIEEE Computer Society Test Technology Technical CommitteeIEEE Computer Society Technical Committee on VLSI,IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and TestingPQKBBOOK9910872733003321Records of the 1995 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing, August 7-8, 1995, San Jose, California2424485UNINA