02199nam0 2200361 i 450 SUN009421920171211022642.513978-88-7959-734-00.0020130709d2013 |0itac50 baitaIT|||| |||||Circuiti per la microelettronicaAdel S. Sedra, Kenneth C. Smith4. ed. italiana nella 6. ed. ingleseNapoliEdises2013XXVI, 1351, [21] p.ill.27 cm. - Titolo originale: Microelectronic circuits.94-XXInformation and communication theory, circuits [MSC 2020]MFSUNC01970194CxxCircuits, networks [MSC 2020]MFSUNC027151NapoliSUNL000005Sedra, Adel S.SUNV0443306373Smith, Kenneth C.SUNV04433287741EdiSESSUNV000139650ITSOL20201012RICA/sebina/repository/catalogazione/documenti/Sedra, Smith - Circuiti per la microelettronica. 4a ed..pdfContentsSUN0094219UFFICIO DI BIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI MATEMATICA E FISICA08PREST 94-XX 3969 08DMF193 I c 20171211 BuonoUFFICIO DI BIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI MATEMATICA E FISICA08CONS 94-XX 3969 08DMF191 I a 20171211 BuonoUFFICIO DI BIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI MATEMATICA E FISICA08PREST 94-XX 3969 08DMF194 I d 20171211 BuonoUFFICIO DI BIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI MATEMATICA E FISICA08PREST 94-XX 3969 08DMF192 I b 20171211 BuonoUFFICIO DI BIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI MATEMATICA E FISICA08PREST 94-XX 3969 08 9326 I deteri20130709 DeterioratoUFFICIO DI BIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA05CONS K I 201 05BC 249 20141010 Microelectronic circuits24493UNICAMPANIA01434oam 2200469zu 450 991016432000332120251006221726.00-8031-5248-5(CKB)3170000000044141(SSID)ssj0001184418(PQKBManifestationID)11771239(PQKBTitleCode)TC0001184418(PQKBWorkID)11192000(PQKB)10028471(EXLCZ)99317000000004414120160829d1993 uy engtxtccrTribology : wear test selection for design and application[Place of publication not identified]ASTM1993STP TribologyBibliographic Level Mode of Issuance: Monograph0-8031-1856-2 TribologyTribologyMechanical EngineeringHILCCEngineering & Applied SciencesHILCCMechanical Engineering - GeneralHILCCTribology.Mechanical EngineeringEngineering & Applied SciencesMechanical Engineering - General621.8/9Bayer R. G(Raymond George),1935-Ruff Arthur W.PQKBBOOK9910164320003321Tribology : wear test selection for design and application2142550UNINA