04258nam 2200589Ia 450 991013975150332120170816111558.01-282-28020-197866122802073-527-62590-93-527-62591-7(CKB)1000000000790416(EBL)481761(OCoLC)493494256(SSID)ssj0000343477(PQKBManifestationID)11267367(PQKBTitleCode)TC0000343477(PQKBWorkID)10290510(PQKB)10683223(MiAaPQ)EBC481761(EXLCZ)99100000000079041619960108d1995 uy 0gerur|n|---|||||txtccrSystemtheoretische Grundlagen optoelektronischer Sensoren[electronic resource] /Herbert Jahn, Ralf ReulkeBerlin Akademie Verlagc19951 online resource (302 p.)Description based upon print version of record.3-527-40012-5 Includes bibliographical references and index.Systemtheoretische Grundlagen optoelektronischer Sensoren; Inhaltsverzeichnis; I Signalmodelle; I.1 Einführende Bemerkungen; I.2 Signal- und systemtheoretische Grundlagen; I.2.1 Kontinuierliche lineare 1-D-Systeme; I.2.2 Diskrete lineare 1D-Systeme; I.2.3 Lineare Systeme mit mehreren Ein- und Ausgängen; I.2.4 Nichtlineare Systeme; I.2.5 Kontinuierliche lineare 2D-Systeme; I.2.6 Diskrete lineare 2D-Systeme; I.2.7 1D-Zustandsmodelle; I.2.8 2D-Zustandsmodelle; I.2.9 Zustandsmodelle und analytische Funktionen; I.3 Zufallsprozesse und Zufallsfelder; I.3.1 Zufallsgrößen und unbekannte feste GrößenI.3.2 Zufallsprozesse und ZufallsfolgenI.3.3 Markow-Prozesse, Markow-Folgen und ARMA-Modelle; I.3.4 Zufallsfelder; I.4 Funktionen mit finitem Spektrum; I.4.1 1D-Funktionen; I.4.2 2D-Funktionen; II Systemtheoretische Beschreibung der optischen Signalwandlung; II.1 Systemtheoretische Formulierung der optischen Abbildung; II.2 Verfahren zur Bestimmung der inkohärenten optischen Transferfunktion; 1. PSF-Messung aus der Untersuchung der Dämpfung bekannter räumlicher Signale; PSF - Messung an einem Infrarot-(IR-) Aufnahmesystem; LSF - Messung an WAOSSBestimmung der PSF aus der KantenverschmierungsfunktionOTF - Messungen mit periodischen Strukturen; 2. OTF-Messung aus dem Autokorrelationsintegral der Pupillenfunktion; 3. Die Messung des Quadrats der MTF aus dem Wienerspektrum; II.3 Optische Fouriertransformation; II.4 Transformation strahlungstheoretischer Größen bei der optischen Abbildung; III Signalwandelnde Eigenschaften von Strahlungsdetektoren; III.1 Systemtheoretische Beschreibung von Detektoren; III.2 Rauschen in Strahlungsdetektoren; III.3 Analogelektronische Wandlung von DetektorsignalenIII.4 Simulation von FernerkundungssystemenOptik, homogene Koordinaten und Ray Tracing; Homogene Koordinaten; Zusammengesetzte Abbildung; Ray-Tracing und optische Abbildung; Ray-Tracing im digitalen Höhenmodell; Literatur; SachwortverzeichnisDie Signalverarbeitung in optoelektronischen Sensorsystemen ist ein multidisziplinär bearbeitetes Forschungsgebiet. Die von Disziplin zu Disziplin unterschiedlichen Formulierungen und Bezeichnungen haben zu Schwierigkeiten im gegenseitigen Verständnis und zu Mehrfachentwicklungen geführt. Das Buch von Jahn und Reulke weist einen Weg zur Überwindung dieser Probleme: Durch die konsequente Nutzung des Instrumentariums der Systemtheorie (und der Theorie der Zufallsgrößen und Zufallsprozesse) gelingt es den Autoren, eine vereinheitlichende Darstellung zu entwickeln. Dem Wissenschaftler und dem IngeOptoelectronic devicesOptical detectorsElectronic books.Optoelectronic devices.Optical detectors.Jahn Herbert953853Reulke Ralf953854MiAaPQMiAaPQMiAaPQBOOK9910139751503321Systemtheoretische Grundlagen optoelektronischer Sensoren2156807UNINA