01652nam0 2200361 i 450 VAN012654220220309111222.159N978303015612120200206d2019 |0itac50 baengCH|||| |||||Electrical Atomic Force Microscopy for NanoelectronicsUmberto Celano editorChamSpringer2019XX, 408 p.ill.24 cm001VAN01233462001 NanoScience and Technology210 BerlinSpringer1998-CHChamVANL001889621.36Ingegneria ottica. Ottica applicata22543.5Spettroscopia ottica. Analisi spettroscopica22530Fisica22502.82Microscopia22620.5Nanotecnologia22621.381Elettronica. Microelettronica. Elettronica molecolare22CelanoUmbertoVANV097926Springer <editore>VANV108073650ITSOL20240614RICAhttps://link.springer.com/book/10.1007/978-3-030-15612-1E-book - Accesso al full-text attraverso riconoscimento IP di Ateneo, proxy e/o ShibbolethBIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI SCIENZE E TECNOLOGIE AMBIENTALI BIOLOGICHE E FARMACEUTICHEIT-CE0101VAN17NVAN0126542BIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI SCIENZE E TECNOLOGIE AMBIENTALI BIOLOGICHE E FARMACEUTICHE17CONS e-book 2113 17BIB2113/222 222 20200206 Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics1577531UNICAMPANIA