01216nam2 22002771i 450 VAN005584020240311092638.50020061113d1994 |0itac50 baitaIT|||| |||||ˆ1 :‰Circuiti per la microelettronicaAdel S. Sedra, Kenneth C. SmithEdizione italiana a cura di Aldo FerrariRomaIngegneria 2000403 p.24 cm001VAN00558322001 Circuiti per la microelettronicaAdel S. Sedra, Kenneth C. SmithEdizione italiana a cura di Aldo Ferrari210 Roma : Ingegneria 2000215 v.24 cm.1RomaVANL000360SedraAdel S.VANV0443306373SmithKenneth C.VANV04433287741FerrariAldo1963- VANV008584Ingegneria 2000VANV111677650ITSOL20240315RICABIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI INGEGNERIAIT-CE0100VAN05VAN0055840BIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI INGEGNERIA05PREST K 216 05 4646 20061113 BuonoMicroelectronic circuits24493UNICAMPANIA01316cam0-22004091i-450 99000643477040332120240502112227.088-06-15277-7FED01000643477(Aleph)000643477FED0100064347720010223d1999----km-y0itay50------baitafreITy-------001yy<<La >>fatica di essere se stessidepressione e societàAlain Ehrenbergprefazione di Eugenio Borgnatraduzione di Sergio AreccoTorinoEinaudi©1999320 p.21 cmBiblioteca Einaudi752001<<La >>fatigue d'être soi. Dépression et société48720Depressione nervosaAspetti socialiDepressioneIndividuoSocietà20. sec.616.852721itaEhrenberg,Alain241908Borgna,Eugenio<1930- >ITUNINARICAUNIMARCBK990006434770403321Collez. 1740 (75)36079FSPBC616.85 EHR 1Bibl.35582FLFBC616.8527 EHR 12605BFS616.8527 EHR 1BIS3009BFSFLFBCFSPBCBFSFatigue d'etre soi48720UNINA