01708nam0 22003853i 450 VAN0025485120251215094332.946N978364222566620230217d2012 |0itac50 baengDE|||| |||||i e bcrKelvin Probe Force MicroscopyMeasuring and Compensating Electrostatic ForcesSascha Sadewasser, Thilo Glatzel editorsHeidelbergSpringer2012XIV, 331 p.ill.24 cm001VAN001328742001 Springer Series in Surface Sciences210 Berlin [etc.]Springer48DEHeidelbergVANL000282621.4022Ingegneria termica. Trasmissione del calore22536.7Termodinamica22621.4021Ingegneria termica. Termodinamica22530.4175Film sottili22GlatzelThiloVANV181981SadewasserSaschaVANV181980Springer <editore>VANV108073650ITSOL20251219RICAhttps://link.springer.com/openurl?genre=book&isbn=978-3-642-22566-6E-book - Accesso al full-text attraverso riconoscimento IP di Ateneo, proxy e/o ShibbolethBIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI SCIENZE E TECNOLOGIE AMBIENTALI BIOLOGICHE E FARMACEUTICHEIT-CE0101VAN17NVAN00254851BIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI SCIENZE E TECNOLOGIE AMBIENTALI BIOLOGICHE E FARMACEUTICHE17CONS e-book 2303 17BIB2303/154 154 20230217 Kelvin Probe Force Microscopy2523334UNICAMPANIA