01487nam0 22003373i 450 VAN0024337320241203120031.968N978981152217820220321d2020 |0itac50 baengSG|||| |||||i e bThermophysical Properties and Measuring Technique of Ge-Sb-Te Alloys for Phase Change MemoryRui LanSingaporeSpringer2020XI, 139 p.ill.24 cmSGSingaporeVANL000061620.11Materiali dell'ingegneria22620.1Scienze dei materiali22541.377Semiconduttori22LanRuiVANV1988781063925Springer <editore>VANV108073650ITSOL20241206RICAhttps://rd.springer.com/book/10.1007/978-981-15-2217-8E-book - Accesso al full-text attraverso riconoscimento IP di Ateneo, proxy e/o ShibbolethBIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI SCIENZE E TECNOLOGIE AMBIENTALI BIOLOGICHE E FARMACEUTICHEIT-CE0101VAN17NVAN00243373BIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI SCIENZE E TECNOLOGIE AMBIENTALI BIOLOGICHE E FARMACEUTICHE17CONS e-book 2221 17BIB2221/20 20 20220321 Thermophysical Properties and Measuring Technique of Ge-Sb-Te Alloys for Phase Change Memory2535290UNICAMPANIA