01627nam0 2200397 i 450 SUN012328320200409090908.4130.00N978149396607320190912d2017 |0engc50 baengCH|||| |||||*Advanced Transmission Electron MicroscopyImaging and Diffraction in NanoscienceJian Min Zuo, John C. H. SpenceCham : Springer, 2017XXV729 p.ill. ; 24 cmPubblicazione in formato elettronicoCHChamSUNL001889621.366Fisica applicata. Laser spettroscopia22530.41Fisica dello stato solido22535.2Ottica fisica22620.5Nanotecnologia22620.1Scienza dei materiali22541.2Chimica teorica22Zuo, Jian M.SUNV094667782723Spence, John C. H.SUNV094668766980SpringerSUNV000178650Zuo, Jian MinZuo, Jian M.SUNV100302Zuo, J. M.Zuo, Jian M.SUNV103483Spence, J. C. H.Spence, John C. H.SUNV103481ITSOL20200921RICAhttps://link.springer.com/book/10.1007%2F978-1-4939-6607-3SUN0123283UFFICIO DI BIBLIOTECA DEL DIPARTIMENTO DI SCIENZE E TECNOLOGIE AMBIENTALI BIOLOGICHE E FARMACEUTICHE17CONS e-book 2111 17BIB2111 29 20190912 Advanced Transmission Electron Microscopy1738021UNICAMPANIA