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1. |
Record Nr. |
UNISANNIOUBO1411905 |
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Autore |
Bushnell, Michael Lee <1950- > |
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Titolo |
Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits / Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal |
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Pubbl/distr/stampa |
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Boston [etc.], : Kluwer Academic, c2000 |
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Titolo uniforme |
Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits |
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ISBN |
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Descrizione fisica |
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Collana |
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Frontiers in electronic testing ; 17 |
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Altri autori (Persone) |
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Agrawal, Vishwani D. <1943- > |
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Disciplina |
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Soggetti |
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CIRCUITI INTEGRATI - PROVE |
Circuiti integrati VLSI |
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Collocazione |
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Lingua di pubblicazione |
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Formato |
Materiale a stampa |
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Livello bibliografico |
Monografia |
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