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1. |
Record Nr. |
UNISA996575457503316 |
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Titolo |
1505.1-2019 - IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505 / / Institute of Electrical and Electronics Engineers |
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Pubbl/distr/stampa |
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[Place of publication not identified] : , : IEEE, , 2019 |
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ISBN |
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Descrizione fisica |
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1 online resource (48 pages) |
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Disciplina |
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Soggetti |
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Lingua di pubblicazione |
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Formato |
Materiale a stampa |
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Livello bibliografico |
Monografia |
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