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1. |
Record Nr. |
UNISA996280709603316 |
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Titolo |
2018 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures : 19-22 March 2018, Austin, TX, USA / / IEEE Electron Devices Society |
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Pubbl/distr/stampa |
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Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2018 |
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ISBN |
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Descrizione fisica |
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1 online resource (78 pages) |
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Disciplina |
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Soggetti |
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Integrated circuits - Testing |
Semiconductors - Testing |
Electronic apparatus and appliances - Testing |
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Lingua di pubblicazione |
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Formato |
Materiale a stampa |
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Livello bibliografico |
Monografia |
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