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1. |
Record Nr. |
UNISA996218586703316 |
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Titolo |
DBT 2005 : proceedings, 2005 IEEE International Workshop on Current and Defect Based Testing, 2005 : 1 May 2005 |
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Pubbl/distr/stampa |
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New York : , : IEEE, , 2005 |
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ISBN |
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Descrizione fisica |
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1 online resource (81 pages) |
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Soggetti |
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Integrated circuits - Defects |
Iddq testing |
Metal oxide semiconductors, Complementary |
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Lingua di pubblicazione |
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Formato |
Materiale a stampa |
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Livello bibliografico |
Monografia |
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