Record Nr.

UNINA9910872675503321

Titolo

1997 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures Proceedings

Pubbl/distr/stampa


[Place of publication not identified], : IEEE, 1997

Descrizione fisica

1 online resource (200 pages)

Disciplina

621.3815

Soggetti

Integrated circuits - Testing

Lingua di pubblicazione

Inglese

Formato

Materiale a stampa

Livello bibliografico

Monografia

Note generali

Bibliographic Level Mode of Issuance: Monograph