Il problema morale e l'educazione morale / Giovanni Modugno

• Record Nr.: UNISALENTO991004056489707536
• Autore: Modugno, Giovanni
• Pubbl/distr/stampa: Firenze : Vallecchi, 1924
• Descrizione fisica: 160 p.
• Collana: La nostra scuola ; 23
• Disciplina: 370.114
• Soggetti: Educazione morale
• Lingua di pubblicazione: Italiano
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia

The responsibility of intellectuals : reflections by Noam Chomsky and others after 50 years / / edited by Nicholas Allott, Chris Knight and Neil Smith

• Record Nr.: UNINA9910773253403321
• Autore: Allott Nicholas
• Pubbl/distr/stampa: London : , : UCL Press, , 2019
• ISBN: 1-78735-554-3
• Descrizione fisica: 1 online resource (127 pages)
• Disciplina: 170
• Soggetti: Responsibility; Intellectual life
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia

Nanometer CMOS ICs : From Basics to ASICs / / by Harry J.M. Veendrick

• Record Nr.: UNINA9910254344903321
• Autore: Veendrick H. J. M (Harry J. M.)
• Pubbl/distr/stampa: Cham : , : Springer International Publishing : , : Imprint : Springer, , 2017
• ISBN: 3-319-47597-5
• Edizione: [2nd ed. 2017.]
• Descrizione fisica: 1 online resource (XXXVII, 611 p. 445 illus., 271 illus. in color.)
• Disciplina: 621.395
• Soggetti: Electronic circuits; Electronics; Microelectronics; Circuits and Systems; Electronic Circuits and Devices; Electronics and Microelectronics, Instrumentation
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Nota di contenuto: Basic Principles -- Geometrical-, Physical- and Field-Scaling Impact on MOS Transistor Behavior -- Manufacture of MOS Devices -- CMOS Circuits -- Special Circuits, Devices and Technologies -- Memories -- Very Large Scale Integration (VLSI) and ASICs -- Low Power, a Hot Topic in IC Design -- Robustness of Nanometer CMOS Designs: Signal Integrity, Variability and Reliability -- Testing, Yield, Packaging, Debug and Failure Analysis -- Effects of Scaling on MOS IC Design and Consequences for the Roadmap.
• Sommario/riassunto: This textbook provides a comprehensive, fully-updated introduction to the essentials of nanometer CMOS integrated circuits. It includes aspects of scaling to even beyond 12nm CMOS technologies and designs. It clearly describes the fundamental CMOS operating principles and presents substantial insight into the various aspects of design implementation and application. Coverage includes all associated disciplines of nanometer CMOS ICs, including physics, lithography, technology, design, memories, VLSI, power consumption, variability, reliability and signal integrity, testing, yield, failure analysis, packaging, scaling trends and road blocks. The text is based upon in-house ; Philips, NXP Semiconductors, Applied Materials, ASML, IMEC, ST-Ericsson, TSMC, etc., courseware, which, to date, has been completed by more than 4500 engineers working in a large variety of related disciplines: architecture, design, test, fabrication process, packaging, failure analysis and software.

UNI EN 1745:2005 : muratura e prodotti per muratura : metodi per determinare i valori termici di progetto : norma europea / Ente nazionale italiano di unificazione

• Record Nr.: UNISANNIONAP0472653
• Autore: Ente nazionale italiano di unificazione
• Pubbl/distr/stampa: Milano, : UNI, ©2005
• Descrizione fisica: VI, 54 p. ; 30 cm
• Collocazione: NORME UNI EN 1745:2005
• Lingua di pubblicazione: Italiano
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Note generali: La presente norma è la versione italiana della norma europea EN 1745 (edizione aprile 2002), corretta il 27 marzo 2008; Pubbl. a fogli mobili.