Record Nr.

UNINA9910709507003321

Autore

Buehler Martin G

Titolo

Microelectronic test patterns / / Martin G. Buehler

Pubbl/distr/stampa


Gaithersburg, MD : , : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology, , 1974

Descrizione fisica

1 online resource

Collana

NBS special publication ; ; 400-6

Altri autori (Persone)

BuehlerMartin G

Lingua di pubblicazione

Inglese

Formato

Materiale a stampa

Livello bibliografico

Monografia

Note generali

1974.

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Nota di bibliografia

Includes bibliographical references.