Low voltage electron microscopy [[electronic resource] ] : principles and applications / / edited by David C. Bell and Natasha Erdman

• Record Nr.: UNINA9910141489403321
• Pubbl/distr/stampa: Hoboken, : John Wiley & Sons Inc., 2013
• ISBN: 1-118-49851-8; 1-118-49848-8; 1-299-18823-0; 1-118-49850-X
• Edizione: [1st edition]
• Descrizione fisica: 1 online resource (257 p.)
• Collana: Royal Microscopical Society-John Wiley series
• Classificazione: SCI047000
• Altri autori (Persone): BellD. C (David C.); ErdmanNatasha
• Disciplina: 502.8/25
• Soggetti: Electron microscopy - Technique
• Lingua di pubblicazione: Inglese
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Note generali: Description based upon print version of record.
• Nota di bibliografia: Includes bibliographical references and index.
• Nota di contenuto: Cover; Current and future titles in the Royal Microscopical Society- John Wiley Series; Title Page; Copyright; List of Contributors; Preface; Chapter 1: Introduction to the Theory and Advantages of Low Voltage Electron Microscopy; 1.1 Introduction; 1.2 Historical Perspective; 1.3 Beam Interaction with Specimen-Elastic and Inelastic Scattering; 1.4 Instrument Configuration; 1.5 Influence of Electron Optics Aberrations at Low Voltages; 1.6 SEM Imaging at Low Voltages; 1.7 TEM/STEM Imaging and Analysis at Low Voltages; 1.8 Conclusion; References; Chapter 2: SEM Instrumentation Developments for Low kV Imaging and Microanalysis2.1 Introduction; 2.2 The Electron Source; 2.3 SEM Column Design Considerations; 2.4 Beam Deceleration; 2.5 Novel Detector Options and Energy Filters; 2.6 Low Voltage STEM in SEM; 2.7 Aberration Correction in SEM; 2.8 Conclusions; References; Chapter 3: Extreme High-Resolution (XHR) SEM Using a Beam Monochromator; 3.1 Introduction; 3.2 Limitations in Low Voltage SEM Performance; 3.3 Beam Monochromator Design and Implementation; 3.4 XHR Systems and Applications; 3.5 Conclusions; Acknowledgements; References; Chapter 4: The Application of Low-Voltage SEM-From Nanotechnology to Biological Research4.1 Introduction; 4.2 Specimen Preparation ; Considerations; 4.3 Nanomaterials Applications; 4.4 Beam Sensitive Materials; 4.5 Semiconductor Materials; 4.6 Biological Specimens; 4.7 Low-Voltage Microanalysis; 4.8 Conclusions; References; Chapter 5: Low Voltage High-Resolution Transmission Electron Microscopy; 5.1 Introduction; 5.2 So How Low is Low?; 5.3 The Effect of Chromatic Aberration and Chromatic Aberration Correction; 5.4 The Electron Monochromator; 5.5 Theoretical Tradeoffs of Low kV Imaging; 5.6 Our Experience at 40 keV LV-HREM5.7 Examples of LV-HREM Imaging; 5.8 Conclusions; References; Chapter 6: Gentle STEM of Single Atoms: Low keV Imaging and Analysis at Ultimate Detection Limits; 6.1 Introduction; 6.2 Optimizing STEM Resolution and Probe Current at Low Primary Energies; 6.3 STEM Image Formation; 6.4 Gentle STEM Applications; 6.5 Discussion; 6.6 Conclusion; Acknowledgements; References; Chapter 7: Low Voltage Scanning Transmission Electron Microscopy of Oxide Interfaces; 7.1 Introduction; 7.2 Methods and Instrumentation; 7.3 Low Voltage Imaging and Spectroscopy; 7.4 Summary; AcknowledgementsReferences; Chapter 8: What's Next? The Future Directions in Low Voltage Electron Microscopy; 8.1 Introduction; 8.2 Unique Low Voltage SEM and TEM Instruments; 8.3 Cameras, Detectors, and Other Accessories; 8.4 Conclusions; References; Index
• Sommario/riassunto: "Part of the Wiley-Royal Microscopical Society Series, this book discusses the rapidly developing cutting-edge field of low-voltage microscopy, a field that has only recently emerged due to the rapid developments in the electron optics design and image processing. It serves as a guide for current and new microscopists and materials scientists who are active in the field of nanotechnology, and presents applications in nanotechnology and research of surface-related phenomena, allowing researches to observe materials as never before"--

(Hoch)Schulmathematik : Ein Sprungbrett vom Gymnasium an die Uni / / von Tobias Glosauer

• Record Nr.: UNINA9910484775003321
• Autore: Glosauer Tobias
• Pubbl/distr/stampa: Wiesbaden : , : Springer Fachmedien Wiesbaden : , : Imprint : Springer Spektrum, , 2017
• ISBN: 3-658-14763-6
• Edizione: [2nd ed. 2017.]
• Descrizione fisica: 1 online resource (XI, 468 S. 106 Abb.)
• Disciplina: 510
• Soggetti: Mathematics; Mathematics, general
• Lingua di pubblicazione: Tedesco
• Formato: Materiale a stampa
• Livello bibliografico: Monografia
• Nota di contenuto: I Formales Fundament: Ein wenig Logik -- Beweismethoden -- Mengen und Abbildungen -- II Anfänge der Analysis: Grenzwerte von Folgen und Reihen -- Grundwissen Differenzialrechnung -- Grundwissen Integralrechnung -- III Rechenfertigkeiten: Lösen von (Un)Gleichungen -- Die Kunst des Integrierens -- IV Abstrakte Algebra: Komplexe Zahlen -- Grundzüge der Linearen Algebra -- V Übungsklausuren -- Lösungen der Übungsaufgaben.
• Sommario/riassunto: Dieses Buch dient als Brücke zwischen Schul- und Hochschulmathematik. Zum einen hilft es Schülerinnen und Schülern sowie Studienanfängern, grundlegende Rechenfertigkeiten zu erwerben, die man bei jedem naturwissenschaftlich-technischen Studiengang beherrschen muss, wie z. B. (Un)Gleichungen lösen, Grenzwerte bestimmen oder Integrale knacken. Hat man sich diese Fertigkeiten bereits vor Studienbeginn angeeignet, so ist der Sprung ins kalte Uni-Wasser deutlich weniger erschreckend. Andererseits eröffnet dieser Text auch freundlich geschriebene Einblicke in die Schönheit der reinen Mathematik: Wir lernen logisch zu argumentieren und Beweise zu führen, erfreuen uns am Körper der komplexen Zahlen, beginnen uns in Vektorräumen wohl zu fühlen und machen erste rigorose Bekanntschaften mit dem Unendlichen. Aufgrund der vielen Beispiele zusammen mit den zahlreichen Aufgaben inklusive ausführlichen Lösungen eignet sich dieses Buch sowohl zum Selbststudium wie auch ; als Unterrichtstext für Lehrerinnen und Lehrer, die hier viel nützliches Material zur Vertiefung des Unterrichts finden. Der Inhalt I Formales Fundament: Ein wenig Logik - Beweismethoden - Mengen und Abbildungen - II Anfänge der Analysis: Grenzwerte von Folgen und Reihen - Grundwissen Differenzialrechnung - Grundwissen Integralrechnung - III Rechenfertigkeiten: Lösen von (Un)Gleichungen - Die Kunst des Integrierens - IV Abstrakte Algebra: Komplexe Zahlen - Grundzüge der Linearen Algebra - V Übungsklausuren - Lösungen der Übungsaufgaben Der Autor Tobias Glosauer ist Lehrer für Mathematik, Physik sowie Naturwissenschaft und Technik am Johannes-Kepler-Gymnasium Reutlingen.