Record Nr.

UNINA9910437351203321

Titolo

2020 IEEE 38th VLSI Test Symposium (VTS) / / Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Pubbl/distr/stampa


Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), , 2020

ISBN

1-7281-5359-X

Descrizione fisica

1 online resource (various pagings) : illustrations

Disciplina

621

Soggetti

Integrated circuits - Very large scale integration - Testing

Lingua di pubblicazione

Inglese

Formato

Materiale a stampa

Livello bibliografico

Monografia