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1. |
Record Nr. |
UNINA9910296457603321 |
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Titolo |
2018 IEEE 27th Asian Test Symposium : 15-18 October 2018, Hefei, China / / IEEE Computer Society |
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Pubbl/distr/stampa |
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Piscataway, New Jersey : , : Institute of Electrical and Electronics Engineers, , 2018 |
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ISBN |
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Descrizione fisica |
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1 online resource (79 pages) |
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Disciplina |
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Soggetti |
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Electronic digital computers - Testing - Circuits |
Electronic circuits - Testing |
Fault-tolerant computing |
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Lingua di pubblicazione |
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Formato |
Materiale a stampa |
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Livello bibliografico |
Monografia |
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