Record Nr.

UNINA9910136274203321

Titolo

ANSI/IEEE Std 300-1982 (Revision of IEEE No 300-1969) : IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors / / Institute of Electrical and Electronics Engineers

Pubbl/distr/stampa


New York : , : IEEE, , 1992

ISBN

1-5044-0276-6

Descrizione fisica

1 online resource (154 pages)

Disciplina

338.4

Soggetti

Semiconductor industry

Lingua di pubblicazione

Inglese

Formato

Materiale a stampa

Livello bibliografico

Monografia