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1. |
Record Nr. |
UNISA996198309403316 |
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Titolo |
2008 17th Asian Test Symposium : 24-27 November 2008 |
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Pubbl/distr/stampa |
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New York : , : IEEE, , 2008 |
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ISBN |
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Descrizione fisica |
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1 online resource (456 pages) |
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Soggetti |
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Fault-tolerant computing |
Electronic circuits - Testing |
Electronic digital computers - Circuits - Testing |
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Lingua di pubblicazione |
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Formato |
Materiale a stampa |
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Livello bibliografico |
Monografia |
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2. |
Record Nr. |
UNINA990008986430403321 |
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Titolo |
Journal of biomechanical engineering |
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Pubbl/distr/stampa |
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New York, : American Society of Mechanical Engineers |
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ISSN |
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Disciplina |
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Lingua di pubblicazione |
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Formato |
Materiale a stampa |
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Livello bibliografico |
Periodico |
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