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1. |
Record Nr. |
UNICAMPANIAVAN00242914 |
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Autore |
Budiman, Arief S. |
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Titolo |
Probing Crystal Plasticity at the Nanoscales : Synchrotron X-ray Microdiffraction / Arief Suriadi Budiman |
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Pubbl/distr/stampa |
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Singapore, : Springer, 2015 |
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Descrizione fisica |
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IX, 118 p. : ill. ; 24 cm |
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Disciplina |
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548 |
543.54 |
502.82 |
620.5 |
621.39 |
620.1 |
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Lingua di pubblicazione |
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Formato |
Materiale a stampa |
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Livello bibliografico |
Monografia |
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